3.2直流三線式直流三線式接近開關(guān)的輸出型有NPN和PNP兩種，70年代日本產(chǎn)品絕大多數(shù)是NPN輸出，西歐各國NPN、PNP兩種輸出型都有。PNP輸出接近開關(guān)一般應(yīng)用在PLC或計(jì)算機(jī)作為控制指令較多，NPN輸出接近開關(guān)用于控制直流繼電器較多，在實(shí)際應(yīng)用中要根據(jù)控制電路的特性進(jìn)行選擇其輸出形式。金屬接近開關(guān)電感式接近開關(guān)由振蕩器、開關(guān)電路及放大輸出電路三大部分組成。DCP010512DBP振蕩器產(chǎn)生一個(gè)交變磁場金屬接近開關(guān)

兩線式接近開關(guān)的靜態(tài)漏電流約為0.5~1.5mA，在選型時(shí)，應(yīng)保證接近開關(guān)的漏電流小于PLC邏輯0信號(hào)的最大電流，并留有一定的裕量。如果不能滿足這一條件，兩線式接近開關(guān)可能出現(xiàn)誤動(dòng)作。使用時(shí)最好實(shí)測(cè)兩線式接近開關(guān)的漏電流的大小。。當(dāng)導(dǎo)電物體接近這一磁場并達(dá)到感應(yīng)距離時(shí)，在導(dǎo)電物體內(nèi)產(chǎn)生渦流，從而導(dǎo)致振蕩衰減以至停振。振蕩器振蕩及停振的變化被后級(jí)放大電路處理并轉(zhuǎn)換成開關(guān)信號(hào)，觸發(fā)輸出驅(qū)動(dòng)控制器件，從而達(dá)到非接觸式檢測(cè)之目的。2.9信息傳送ASI（總線）連接設(shè)備上各個(gè)位置上的傳感器在生產(chǎn)線（50-100米）中的數(shù)據(jù)往返傳送等.3.接近開關(guān)分類及結(jié)構(gòu)接近開關(guān)的作用是當(dāng)某物體與接近開關(guān)接近并達(dá)到一定距離時(shí),能發(fā)出信號(hào).它不需要外力施加,是一種無觸點(diǎn)式的主令電器.它的用途已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出行程開關(guān)所具備的行程控制及限位保護(hù).接近開關(guān)可用于高速計(jì)數(shù)、檢測(cè)金屬體的存在、測(cè)速、液位控制、檢測(cè)零件尺寸以及用作無觸點(diǎn)式按鈕等.就目前應(yīng)用較為廣泛的接近開關(guān)按工作原理可以分為以下幾種類型：

金屬接近開關(guān)電感式接近開關(guān)可以把細(xì)小的開關(guān)體積達(dá)到最大的檢測(cè)距離。它還可以檢測(cè)電感式物體，然后產(chǎn)生觸發(fā)開關(guān)信號(hào)輸出4.1.3.金屬體和非金屬要進(jìn)行遠(yuǎn)距離檢測(cè)和控制時(shí)，應(yīng)選用光電型接近開關(guān)或超聲波型接近開關(guān)。4.1.4.對(duì)于檢測(cè)體為金屬時(shí)，若檢測(cè)靈敏度要求不高時(shí)，可選用價(jià)格低廉的磁性接近開關(guān)或霍爾式接近開關(guān)。4.2.接近開關(guān)技術(shù)指標(biāo)檢測(cè)。因?yàn)榇艌瞿芡ㄟ^很多非電感式物，所以此觸發(fā)過程并不一定需要把目標(biāo)物體直接靠近電感式接近開關(guān)的感應(yīng)面，而是通過電感式導(dǎo)體把感應(yīng)磁場傳送至遠(yuǎn)距離，例如，信號(hào)能夠通過高溫的地方傳送到電感式接近開關(guān)而產(chǎn)生觸發(fā)動(dòng)作號(hào)。

金屬接近開關(guān)電感式接近開關(guān)由三大部分組成：振蕩器、開關(guān)電路及放大輸出電路。振蕩器產(chǎn)生一個(gè)交變磁場。當(dāng)金屬目標(biāo)接近這一磁場，并達(dá)到感應(yīng)距離時(shí)，在金屬目標(biāo)內(nèi)產(chǎn)生渦流，從而導(dǎo)致振蕩衰減，以至停振金屬接近開關(guān)在各類開關(guān)中，有一種對(duì)接近它物件有“感知”能力的元件——位移傳感器。利用位移傳感器對(duì)接近物體的敏感特性達(dá)到控制開關(guān)通或斷的目的，這就是接近開關(guān)。當(dāng)有物體移向接近開關(guān)，并接近到一定距離時(shí)，位移傳感器才有“感知”，開關(guān)才會(huì)動(dòng)作。通常把這個(gè)距離叫“檢測(cè)距離”，不一樣的接近開關(guān)檢測(cè)距離也不一樣。。振蕩器振蕩及停振的變化被后級(jí)放大電路處理并轉(zhuǎn)換成開關(guān)信號(hào)，觸發(fā)驅(qū)動(dòng)控制器件，從而達(dá)到非接觸式之檢測(cè)目的。